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解決方(fāng)案(àn)

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真空鍍膜塗層(céng)膜厚測量方式?

作者: 來源: 日期(qī):2021-07-14 12:19:06 人氣:2679
       我們(men)日常生活中,很多生活物品都(dōu)經過鍍膜(mó)機鍍上了一(yī)層膜層(céng),讓產品不僅變得更美觀,也更實用。但是很多人會有一個疑問,那既然是鍍(dù)了一層膜層,薄膜肯定是有厚度大(dà)小的,那(nà)麽薄膜厚度具體多厚呢,以及怎麽去測量?

       薄(báo)膜必須沉積在基底(dǐ)之上, 所以離(lí)開了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞(huài)又對薄膜的質最有極共重要的影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜(mó)的厚度,脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也是亳(bó)無意義的。 所以, 膜厚的測量(liàng)和(hé)基片的清(qīng)洗(xǐ)可以說是和薄膜製作相關的重要技(jì)術(shù)。一(yī)般所謂(wèi)的厚度是指兩個完全(quán)平整的平行平(píng)麵之間的距離(lí),這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜(mó)厚度是指基片表麵和薄膜表麵之間的距離。在薄膜形貌(mào)的三維度量中,相對於薄膜的厚(hòu)度來講,其他兩維的(de)度量可以說是無窮(qióng)大。由於實際(jì)上存在的表麵是不平(píng)整和不連續的,而且薄膜的內部還可能存在著(zhe)氣孔、雜質、晶(jīng)格缺陷和表麵吸附分(fèn)子(zǐ)等等,所有要嚴格地定義和精確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的(de)。

        膜厚的定義位當根據測(cè)址的方法和測址的目的決定。 因此,同一個薄膜,使用不同的測量(liàng)方法會(huì)得到不同的結果, 即(jí)不同的厚度(dù)。

        在薄膜油測量中的表麵並不(bú)是一個幾何的概念,而(ér)是一個 物埋概念(niàn),是指表麵分子(原子)的集合。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這個麵的距離代數和等於零, 平均表麵是一個兒(ér)何概念。

        我們通常將基片的一側的表麵分子的集合的平均表麵稱為基片表麵;薄膜上不和基片接觸的(de)那一側的表麵的(de)平均表(biǎo)麵稱為薄膜的形狀表麵,將所測量的薄膜原子重(chóng)新排列(liè),使其密度和(hé)大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵上(shàng),這時平均表麵稱為薄膜質量等價表(biǎo)麵;根據所測量薄膜的(de)物理性質(zhì)等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣(yàng)的大塊固體材料的薄膜,這時的平均表麵稱為薄膜物(wù)性等價表(biǎo)麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀形式(shì)的膜厚, 通(tōng)常以(yǐ)µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜中(zhōng)包含物質為多少,通常 以 µg/cm#8217;為單位, 物性膜厚(hòu)在實際使用上(shàng)較(jiào)有用, 而且比較(jiào)容易測(cè)量(liàng)。

         由於實際表麵並不平整,同時薄膜製作過(guò)程中又不可避免地要有各種缺陷(xiàn)、 雜質(zhì)和吸附分子等存在,所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚(hòu),都是一個平均值,而(ér)且足包括了雜質、缺陷以及吸附分子在內的薄(báo)膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空(kōng)腔體下進行鍍膜的,對於測量膜厚度來說,是需要這方(fāng)麵專業的測量儀才能測出厚度大小。
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